利用电子显微学方法准确地表征金属、半导体和半导体/金属复合纳米线的结构稳定性如何受外场的影响,找出各种纳米线显微结构变化与加热温度、外电场强度和电流密度之间的对应关系。对各种纳米线的功能对显微结构的依赖性做出基础性规律研究,为纳米线材料和器件的设计和制备提供科学依据。本研究项目针对功能纳米材料的基础性科学问题,以金属、半导体和半导体/金属复合纳米线精细结构的稳定性与外场,显微结构与性能的相互关联为主要内容,研究探讨通过显微结构来控制各种纳米线性能的新方法,为解决功能纳米线材料科学技术发展中的基础性问题做出贡献。
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数据更新时间:2023-05-31
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