高气压下介质阻挡放电沉积类金刚石膜及其机理研究

基本信息
批准号:50002002
项目类别:青年科学基金项目
资助金额:18.00
负责人:俞世吉
学科分类:
依托单位:大连理工大学
批准年份:2000
结题年份:2003
起止时间:2001-01-01 - 2003-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:丁宏斌,宋志民,刘东平,孙琪,黄俊卿
关键词:
分子束质谱介质阻挡放电
结项摘要

介质阻挡电沉积类金刚石膜是近几年开始研究的镀膜新方法,可实现低温下在多种基底上快速大面积沉积薄膜,该法耗能和投资费用低,具良好应用前景。本工作拟在较高气压下深入研究各种工艺参数对成膜性能的影响,优化成膜条件,制备高质量薄膜。对成膜等离子体进行分子束质谱和发射光谱诊断及理论模拟,提示成膜机理,为高气压成膜领域作出贡献。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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