This study introduces a method on improved credibility of succession operation life test of power bipolar transistor.
现行的控制壳温的晶体管稳态工作寿命实验存在着可信度低的问题,本项研究将通过在实验过程中晶体管结温的测量和控制并使之维持在最高允许结温来提高实验的可信度。主要研究内容包括实验过程中时检测结温的电学测量方法、结温的自动控制及重要热电参数的实时监测方法,实验设备的研制和计算机应用程序设计,与原有实验方法的对比验证等。.
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数据更新时间:2023-05-31
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