高电荷态离子亚稳态能级寿命研究

高电荷态离子激发态能级寿命的研究对多体问题的研究、原子结构理论的研究、对天体物理及聚变等离子体的研究、以及X射线激光的研究有重要意义。用基于电子束离子阱（EBIT）的实验手段可以研究在10ns到10ms之间的能级寿命，以及短于1fs的能级寿命。正好与基于加速器的束箔方法互补，束箔方法适用于0.01-100ns之间的能级寿命研究。.在EBIT方法能够覆盖的能级寿命范围，大部分涉及禁戒跃迁相关联的亚稳态能级，它们对等离子体的诊断以及X射线激光的研究尤其重要。我们的前期理论研究，揭示了利用某些禁戒跃迁的干涉效应对能级寿命的影响，还能发展对定向激发导致的极化效应进行研究。.复旦大学上海EBIT装置已经建成，相关的光谱学研究平台的建设也已基本完成，可以覆盖1A到10000A的波段。我们将在此基础上对高电荷离子的亚稳态禁戒跃迁进行实验研究。