研究了两种新的X射线衍射技术:A。多相多晶体表层的物相深度的分布的定量分析方法。B多相多晶体表层的计算深度层析方法。前者采用多入射角测定X射线衍射谱然后拟合计算求介。得到每一个深度处的物相定量分析结果。可以地物相结构尚未完全确定的情况下得出正确结果。后者可将表层(如4000A)分成多层(如20层),测事实上和直接求解(不是拟合)出每一层(如200A)的X射线衍射的全P信息(含X射线衍射线角度,强度和线形)。在后者工作中,完成了从提出方法的概念,具体技术方法,机械硬件作用,电子控制系统制作、计算方法,具体计算软件的全套概念和技术,并以Pd/Ag双层膜扩散样品证实了所提出的概念和方法的正确性。
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数据更新时间:2023-05-31
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