基于多体微扰理论和密度泛函理论的电子能量损失谱近阈精细结构第一原理计算

在已有的密度泛函理论框架下计算内壳层激发谱的工作基础上，进一步开展利用多体微扰理论方法考虑内壳层激发过程中内壳层空穴-激发电子相互作用、内壳层空穴-激发电子对寿命对实验观测谱线展宽方面的研究工作。在理论上深化对已有工作中采用激发态赝势和超晶胞近似考虑空穴应用的有效性的理解，解决现有的在六硼化钙、 二硼化镁、 氮化镓、氮化硼等材料中理论和实验谱线比较中发现的部分细节不一致的问题，在开放软件的基础上形成一套可以在国内外同行中传播的基于Bethe-Salpeter 方程计算电子能量损失谱近阈精细结构的程序，并利用此程序和申请者在赝势平面波方法中开发的程序结合与实验工作者开展合作。