用微微秒光电采样技术研究单片微波集成电路时域特性

用我们研制的超高速光电采样系统测量了从几GH3至40GH3大量MESFET及MMIC器件的时域特性，对时域波形进行了分析和修正，并用快速富利变换将时域特性转换为频域特性，给出S参数。研制了适于测量成品管和芯的两种结构PS光导开关。其响应时间为7-10PS。编制了光导开关设计；相关采样；时域曲线分析面修正；富利叶变换；S参数计算等全套实用软件。该方法的创新和特点是：（1）通过一次时域测量可得待测器件从直流到系统可达最高频率100HGg的频率特性。并通过对时域曲线的修正和时窗截取可将有用信号和干扰信号分开。（2）待测器件做为二端口网络直接与光导开关连接，且可做得充分近不需特制微波探针。也减少微波信号传输中损耗。（3）测量的是经两次相关检测的低频信号，大大抑制了噪声。测量结果精确。