大麦黄花叶病复合抗性基因构建及其转基因研究

本研究得到如下结果：（1）克隆、测序并构建了BaYMV的CP、NIb、NIa和5′端非编码区的ND；（2）建立了大麦转基受体系统；（3）CP基因5′端缺失200nts就失去抗性，而3′端缺失200nts仍有抗性，但缺失400nts时，即丧失抗性，证明CP3′端200-400nts区属于“抗性核心区”；（4）对四个基因的“抗性核心区”进行了分析，并获得保护原有抗性效果的四个非完整基因图片段（分nts）；（5）将这四个非完整基因片段构建成不同“复合抗性基因”，并克隆到离效表达质粒pkan-2，采用PEG法，在原生质体水平上检测到其抗性水平比单基因高出的20-30倍；（6）将CP基因和一些“复合抗性基因”分别导入大麦受体材料中，获得再生植株，经Southern blot等检测表明，外源基因已整合到大麦基因组中。