同步辐射二维掠入射小角和广角X-射线散射技术在双结晶性嵌段共聚物薄膜的形貌和结构研究中的应用

在本研究中，要建立利用原位同步辐射二维掠入射x-射线散射（2D GISAXS和2D WAXS）技术定量分析强相分离型双结晶性嵌段共聚物薄膜的形貌和结构的表征方法，并利用原位2D GISAXS、2D GIWAXS和AFM等技术研究结晶化条件、膜厚、溶剂和溶剂挥发温度、基体表面性质以及组分含量和分子量对薄膜形貌和结构的影响，探讨结晶化与形貌的之间的关系、形貌和结构的形成机理以及影响形貌和结构的因素等科学问题。本研究对阐明强分离型双结晶性嵌段共聚物薄膜的形貌和结构形成机制，为调控双结晶性嵌段共聚物形貌和结构奠基理论基础以及为双结晶性嵌段共聚物薄膜的理论研究和应用提供思路。

我们顺利地完成了本项目内容和预期成果：具体的如下（1）建立了二维掠入射小角和广角X-射线散射图的简便、有效的实验方法和定量分析方法，成功地在国内同步辐射X-射线光源完成了同步辐射二维掠入射小角/广角X-射线散射（2D GISAXS/GIWAXS）实验，并为国内同步辐射2D GISAXS/2D GIWAXS技术发展做出贡献。（2）利用2D GISAX/GIWAXS方法表征了双结晶嵌段共聚物薄膜结构与形貌，研究了薄膜厚度、结晶化温度以及表面润湿对双结晶嵌段共聚物薄膜的结晶行为、结晶取向和结晶形貌的影响，而且进一步延伸地研究了在不同多组分高分子材料的受限结晶化行为。（3）本项目完成期间，我们在国际核心期刊发表了6篇SCI论文，其中影响因子大于3.0以上的6篇，培养了2名博士生和1名硕士生。