密码芯片功耗与电磁泄漏旁路攻击及安全实现研究

密码芯片是密码算法实现的重要载体。利用密码在芯片中运行时呈现的功耗与电磁辐射等物理特征的旁路分析技术，可能破解密码获取涉密信息，对密码芯片的安全应用构成了严峻的威胁。本课题将探讨密码芯片功耗与电磁辐射机理；通过对功耗以及近场、远场电磁辐射信号的采集，采用Pearson相关系数等统计分析方法对泄漏数据进行分析，并尝试破解密码芯片中典型密码算法（DES、AES等）的密钥；建立功耗与电磁分析攻击样本量统计模型，对攻击困难度进行评估；研究在功耗与电磁信息泄漏的危险物理环境下敌手的攻击能力及密码方案的安全性度量方法；研究从算法设计到芯片设计各个不同层次的实用防护技术，并评估密码设备抗功耗与电磁分析攻击的能力。通过对上述五个问题的研究，在加强密码芯片物理实现的安全性、评估密码芯片的安全等级、对加密的硬件芯片或模块进行破解等方面，具有一定的理论意义和军事价值。