提出一种将有限元、模匹配和多模网络相结合的新方法,有效地解决了确定半导体电导率与样品散射参数关系的理论难题。该方法具有有限元方法的通用性,模匹配法的精确性和网络方法的简便性,收到了事半功倍的效果,具有重要的学术和实用意义。与德国合作伙伴一起,从理论和实验的结合上对测量Ⅱ-VI族半导体电导率的无接触微波方法进行了探索性的研究,取得了突破性的进展。成功地建立了一套设备简单、可靠实用、完全由计算机自动控制的测试系统,并已上式投入常规使用。这对加速很难实现良好的欧姆接触又具有广阔应用前景的Ⅱ-VI族半导体的研究具有重要的推动作用,是一项具有国际先进水平的研究成果。
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数据更新时间:2023-05-31
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