近场存储纳米尺度飞行高度检测理论与方法研究

为实现超高密度和大容量信息记录和存储，需要减小记录头与存储介质的间隙，提高头盘界面耦合效率，因此头盘间隙的实时测控非常关键。本项目旨在研究近场存储中微滑块纳米尺度动态间隙测量理论与实用化检测方法；建立亚纳米分辨率测量模型；研究纳米量级范围内，头盘摩擦、机械振动、光束传播特性等因素对测试影响规律；设计新型测试光路、微弱信号检测电路与精密机电控制系统，实现纳尺度间隙精确测量，提高国内在超高密度近场存储系统飞高检测技术水平，为信息存储设备的产业化发展提供理论及技术基础。