本项目选择微处理器为实验对象,研究数字VLSI电路的自测试-自诊断-自修复方法和技术,研制一款具有自修复功能的微处理器。在方法学上侧重于研究:⑴动态故障建模及自测试(BIST)方法,根据不同类型存储器物理缺陷的机理,建立合理的动态故障模型;⑵面向修复的自诊断(BISD)方法,在复杂故障类型下,准确判定需要保存的地址信息;⑶硬件冗余与信息冗余相结合的自修复(BISR)方法,考虑硬件冗余与信息冗余问题的数学建模及优化算法。在实验研究方面,结合一款微处理器设计,开展故障注入方法与自测试、自诊断、自修复方法的实验研究。本项目将在微处理器自测试-自诊断-自修复方面提出创新方法和关键技术,选择0.18u工艺投片(对于片内SRAM上不多于10个固定型故障,具有100%修复率)。对微处理器设计制造领域迫切需要解决的成品率和可靠性问题,提供经过真实电路检验的微处理器自修复设计方法。
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数据更新时间:2023-05-31
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