以吡咯为单位,在等离子体条件下聚合成有机膜。通过100KeV、5×10(15)cm(-2)Ar(+)及20KeV、1×10(16)cm(-2)I(+)辐照1在原始膜表面得到稳定导电层,其室温电导率σ比原始膜提高10个量级。研究导电层内σ随温度的变化,探讨载流子输运机理,应用核分析技术(ERD和RBS)测定成分,FT-IR和XPS分析结构和键态。应用传递矩阵方法,得到二层和三层系统光强反射率和透射率的理论式;从实测的反射和透射谱及其理论式,计算得到原始膜,Ar(+)辐照层和注I(+)层在近红外一可见一紫外频率范围内的复数折射率、复介电函数和光吸收系数。从ωε21/2和πω的线性关系及求和法则获取微结构信息。结果表明:原始膜内19%的碳原子保留吡咯环结构,Ar(+)辐照层中36.4%的碳形成石墨型聚焦,其最大线度约17A。
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数据更新时间:2023-05-31
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