单晶X射线应力分析中的若干可靠性问题的研究

单晶X射线应力分析技术有重要的应用前景。本项目的预试验表明，对于经受过塑性变形的单晶表面，不仅可用针对单晶材料的，还可用针对多晶材料的X射线应力分析技术来测量其残余应力，但它们测量结果的差值很大。本项目将证明，由于塑性变形在单晶表面引入取向各异的亚晶粒，亚晶粒"相"和单晶基体"相"之间的相应力是造成上述差值的根本原因。拟用残余应力的机械测量法(破坏性的)测出其真实值，并将证明该真实值应为上述两方法(或上述两相)的测量结果的加权平均值。据此提出用无损检测技术获得单晶表面残余应力真实值的方法。用场发射扫描电镜和X射线线形分析技术分析亚晶"相"。用逐级加载试验标定电解抛光和喷丸表面的单晶"相"的X射线柔度系数，测量两种表面各"相"的屈服强度，从中对单晶X射线应力分析的可靠性作进一步的讨论。研究成果不仅有助于正确理解和应用单晶X射线应力分析技术的测量结果，而且有助于阐明该技术中的有关科学问题。