为了探索P型GaN材料欧姆接触的新方法和新机理,采用以下两种新方法:(1)先在被脉冲YAG激光辐照的Zn(或Mg)/P-GaN样品表面上溅射Au/Zn/Ni三层金属薄膜,后在氮气保护下快速退火,在样品表面形成3E18cm-3至1E19cm-3的空穴浓度,探索在有效高浓度掺杂下因隧穿效应所形成欧姆接触的机理;(2)先在P-GaN表面上溅射Au/Ni或Au/Zn,后在氧气氛下快速退火,探索NiO或Zn
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数据更新时间:2023-05-31
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