一个新的中子活化截面测量技术研究

本项目利用毫微秒脉冲中子源、高分辩γ射线谱仪和飞行时间方法建立了一个新的中子活化截面测量技术：全γ辐射测量技术（TGRM）。这项技术能够在一次实验中同时确定寿命从几个毫微秒到100小时之间跨越14个量级这样大范围内的中子活化截面，它填补了寿命在几毫秒以下中子活化截面测量方法的空白，为精细研究大量短寿命同质异能态的理论和应用提供了一个理想工具，也为一种适合于短寿命和轻核素的新的快中子活分分析方法（全γ辐射分析技术）奠定了物理技术基础，被国内外认为是开创性的研究工作。已经完成铝、硅、铅等核素的研究，在国内外发表八篇论文，还有四篇将发表。研究工作按计划进行，并达到预期目标。