亚微米芯片通道中凝结流型演变、热力特性及非稳定振荡研究

研究内容：（1）运用微电子制造和测量技术，对亚微米芯片通道内凝结流动过程中的流型演变、热力特性及非稳定振荡进行深入细致的可视化实验研究；（2）利用VOF界面跟踪法，对亚微米芯片通道内非稳定凝结相变特性进行数值模拟；（3）通过实验研究和数值模拟，确定不同流动和凝结负荷条件下的流型演变规律，及其对整体凝结换热系数的影响；（4）确定由稳定凝结向非稳定凝结转变的物理机制，并提出判别依据；（5）研究不同非稳定凝结模式产生的条件，以及相应的温度、压力、流量的振荡规律,并分析非稳定振荡对整体凝结换热系数的影响；（6）研究通道形状、大小、表面粗糙度、表面亲水性能对凝结流型演变、热力参数变化及非稳定振荡的影响。.研究意义（1）将现有毫微米通道内凝结换热的宏观稳态特性研究推进至亚微米通道内的局部非稳态特性研究，具有重要的科学意义；（2）研究成果对具有广泛高科技应用前景的芯片热管的开发和设计具有重要指导意义。