质子探针技术原理探索

高能质子在对物质透视成像方向具有比X光穿透能力强，可分辨相近物质，对比度好，分辨率高，同时对电磁场灵敏等特点，在稠密等离子体诊断，封闭而且结构复杂的物体内部缺陷的无损检测等方面具有重要的应用前景。本项目利用已经建成的SILEX-I超短激光装置的相对论激光照射特殊靶所产生的高能质子束研究带电粒子与物质相互作用，对高能质子束与静态物质和动态等离子体发生相互作用时的物理过程和物理效应进行研究，探索利用此种高能质子对动态等离子体以及静态复杂闭合结构物体进行透视成像的物理机制，并在可能的条件下将此种方法作为新的诊断手段应用于高能量密度物理实验，同时开发此类高能质子的其它可能的应用。