利用X射线微断层显像技术研究胶体在多孔介质中的迁移行为

胶体能吸附并促进污染物(如放射性核素)在地下环境(多孔介质)中的运移，并进而污染地下水源。因而研究胶体对保护地下水具有重要意义。本研究将利用高分别率的X射线微断层显像技术研究胶体在多空介质中迁移的微观机理，直接观察地下环境中多孔介质颗粒表面的突起和滞流区对胶体吸附所起的作用，同时研究介质颗粒之间接触对尺寸为5－8微米胶体的去除的影响。介质颗粒表面的突起和滞流区以及介质颗粒之间的接触被认为是胶体能够在介质中吸附的关键因素,但目前还没有人对胶体在颗粒表面突起和滞流区的吸附作过原位观察，对胶体在介质颗粒之间接触区域的吸附的观察也仅限于36微米的微小颗粒(严格意义上讲不属于胶体)。我们还将探索把流体力学的最新进展Lattice-Boltzmann模拟用于胶体迁移模拟的可行性。我们的研究将大大加深对胶体在多孔介质中吸附机理的理解，从而为更好地预测胶体及其携带的污染物在多孔介质中的运移奠定基础。