腔QED系统中耗散对量子纠缠与几何量子计算影响的理论研究

研究微波腔QED和光腔QED中腔模衰变和原子自发辐射等耗散现象对量子纠缠制备和几何量子计算保真度影响的基本规律。探索在真实微观物理系统中采用几何方法操纵量子比特的理论基理。发展适合于真实物理条件下的量子纠缠制备方案及几何量子计算过程的计算理论，并探讨如何提高量子态制备的保真度和成功几率，提出实现高保真度的量子操作及几何量子计算方案。探索针对实际微观物理系统中介观纠缠态制备的新方法。并将这些方法和理论推广到腔QED的约瑟夫结（Josephon Junction）形成的物理系统和囚禁离子物理系统中去。这些研究将对量子纠缠、量子计算和量子信息处理实用化的发展具有重要的理论基础意义。