密码芯片安全性测试原理和方法
基本信息
批准号：60373109
项目类别：面上项目
资助金额：7.00
负责人：范明钰
学科分类：
依托单位：电子科技大学
批准年份：2003
结题年份：2004
起止时间：2004-01-01 - 2004-12-31
项目状态： 已结题
项目参与者：王光卫,盛旭明,王宇飞,张波,郭宇峰,郭嵩涛
关键词：
测试原理和方法安全性测试密码芯片
结项摘要
密码芯片是信息安全应用系统中的核心器件。由于国内设计和使用芯片的现状，要使密码芯片的安全性设计和使用得到有效保障，必须对密码芯片自身的安全性进行测试，以提供信任依据。本项目力图通过对芯片在静态的重要参数和函数的完整性测试研究，在特殊条件下(如出错等)，以及在工作和配置过程中密码芯片的主动和被动泄漏信息的测试研究，探索创建密码芯片安全性测试的原理和方法。本项研究涉及信息安全系统资源的安全性测试，项目
项目摘要
项目成果
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数据更新时间：2023-05-31
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