用于光脉冲检测的埋藏有金属微粒的半导体薄膜

基本信息
批准号:68871017
项目类别:面上项目
资助金额:5.00
负责人:吴全德
学科分类:
依托单位:北京大学
批准年份:1988
结题年份:1991
起止时间:1989-01-01 - 1991-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:薛增泉,吴锦雷,刘惟敏,董引吾,赵兴钰,黄珏华
关键词:
金属微粒半导体薄膜
结项摘要

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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