半导体中缺陷和界面的结构性质研究
基本信息
批准号：68876111
项目类别：面上项目
资助金额：3.00
负责人：褚一鸣
学科分类：
依托单位：中国科学院半导体研究所
批准年份：1988
结题年份：1991
起止时间：1989-01-01 - 1991-12-31
项目状态： 已结题
项目参与者：王凤莲,李成基,陆珉华,宁先捷,刘学峰,姜彤弼
关键词：
电子显微术缺陷界面
结项摘要
项目摘要
项目成果
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数据更新时间：2023-05-31
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