任意曲面表面粗糙度测量方法的研究
基本信息
批准号：59075206
项目类别：面上项目
资助金额：3.80
负责人：李柱
学科分类：
依托单位：华中科技大学
批准年份：1990
结题年份：1993
起止时间：1991-01-01 - 1993-12-31
项目状态： 已结题
项目参与者：谷庭西,陈家壁,尤政,吴泽明
关键词：
表面粗糙度光学位移传感器任意曲面
结项摘要
项目摘要
项目成果
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数据更新时间：2023-05-31
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