共聚焦微束X射线荧光分析方法的建立及其在科技考古中的应用研究

基本信息
批准号:10875137
项目类别:面上项目
资助金额:43.00
负责人:冯松林
学科分类:
依托单位:中国科学院高能物理研究所
批准年份:2008
结题年份:2011
起止时间:2009-01-01 - 2011-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:朱继浩,闫灵通,李丽,谢国喜
关键词:
科技考古无损分析标准样品共聚焦微X射线荧光分析
结项摘要

受传统研究方法和鉴定技术限制,在铜器、名人字画、漆器和古陶瓷等文物的研究鉴定中,迫切需要建立权威的科学鉴定标准,是目前文物界与收藏界最亟待解决的问题。珍贵文物是不允许取样分析的,文物中的元素组成随时间变迁几乎不发生变化,是进行科学研究和鉴定的依据。PIXE、SRXRF和EDXRF等核分析技术具备有损和无损分析双重功能,在科技考古和文物研究鉴定中发挥了不可替代的作用。新型元素能谱分析议能对文物表面的元素二维分布进行原位定量测量,但不能给出不同厚度表面层中的元素组成信息,在探测器前安装X光聚焦透镜,实现两个焦点重叠即共聚焦,通过改变样品表面与共聚焦点之间的距离,建立共聚焦的XRF分析方法,用标准样品实施质量控制,选择典型样品进行无损分析方法的研究,建立获得重复数据和权威结论的实验参数和方法,是科技考古和文物无损鉴定中必须解决的技术问题,在生物医学、环境、材料、农业和地质学科亦有应用前景。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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