针对中子单色器镶嵌角测量的重要性和需快速方便测量的要求,研究用γ衍射测量单色器镶嵌角的技术:从理论上研究单色器镶嵌角分布与衍射γ射线散射角分布间的关系,以此为基础研究小入射角Braggγ衍射装置各部分间正确精细的几何布局;研究诸如γ射线波长及其单色性、束流强度、方向发散性、探测立体角等因素对测量分辨率和灵敏度的影响关系,并研究对这些因素进行优化和匹配的方法和技术,使既提高测量分辨率和准确性又满足快
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数据更新时间:2023-05-31
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