单晶光纤损耗测量仪可研究晶纤的总损耗谱散射谱及散射位置谱,仪器主要指标为;波长范围0.4-1.6Mm;分辨率0.15nm;波长重复性±0.3nm;测量精度±0.05-±0.6db(增益2°-2(15));动态范围90db;可测晶纤范围;直径0.2-1.2mm,长度10-350mm.扫描速度0.1-5米/秒.该仪器已申请中国专利,获实用新型专利一项.经专家鉴定,一致认为;仪器功能多,属国内首创,达到国际先进水平;散射位置谱测量属国际首创,这一成果水平经上海科技情报所全面检索证实.单晶光纤具有潜在广泛应用前景,为该仪器推广创造良好条件.本成果部分内容(如程控锁相放大器)应用场合更广,销售价只有进口价格的1/8-1/10,生产一台仪器有近50%的锐利益.
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数据更新时间:2023-05-31
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