运用双注仪和电镜法对扁平卤化银微晶形成过程进行了系统研究,发现在最初20秒内,AgBr团簇的n数的约为60-600,最大n数可以上升,5分钟后才出现小扁平颗粒,通过优化成核与生长各种条件,六角形扁平颗粒总数可达到95%,首次在国内用电镜法救世主得硫增感团簇大小小及分布,利用TAI调度增感团簇大小及其分布,TAI 使微晶晶格缺陷数目下降,使光电子寿命上升,使显影中心银原子簇的大小分布变窄,关联银团簇大小分布及其微晶电性质的关系表明,适度降低IC和增长光电子寿命。可使显影中心银团簇的单分数性得到改善,最后导致感光度成信增高,这与传统的理论--即分散度越低感光度越高--是不同的,具有重要的学术意义和潜在应用价值。
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数据更新时间:2023-05-31
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