0.15-3.00MeV能区质子在轻核上的共振背散射截面测量

利用金薄膜为衬底淀积待测轻元素的自支撑薄靶接受0.15-3.00MeV质子辐照，在160°、170°逐不同能量点地测量质子背散射产额，用金衬底的背散射产额实现辐照剂量监测，以卢瑟福气散射能区的谱及截面为标准，相对法测出共振区的载段数值，测量了Be 、B、C、N、O、F、Si、及Al上述能区的背散射截面激发函数曲线并以表格形式给出了各能量点的截面数值，这些数据中有相当一部分是国内外尚缺少的，因此这些测量数据对利用质子进行各类样品的背散射定量测量，特别是轻元素杂质浓度的深度剖面测量具有重要的应用价值，测量的结果如B、Be 、C、 Al、 Si的数据已在国内外刊物上发表，余下的一些核数据正在整理之中，将陆续在以后发表。