基于复用的测试集成及相关问题的研究

系统芯片的设计与制造技术迅速发展，在IP模块设计的可复用性受到重视的同时，测试的可复用也更加重要。研究基于复用的电路模块测试集成技术和底层电路模块的可复用性测试开发技术及与之相关的电路模块“通透性”分析和计算方法。通过研究，将为从根本上解决SOC测试问题提供理论依据。