高分子在纳米棒中的结晶和取向研究

高分子纳米器件的性能与其形貌结构密切相关，结晶高分子材料的力学、电学、光学性质等依赖于其结晶区域的性质。虽然高分子片晶的厚度通常在几个到几十纳米之间，但其侧向尺寸则可以达到几十微米。高分子在纳米棒中结晶时在径向受到限制，只有在长度方向是自由的，同时，纳米模版的曲率以及表面性质也可能影响高分子的结晶行为。本项目以红外光谱结合X射线衍射及电子衍射方法，探索高分子在纳米棒中的结晶和取向，系统研究直径、曲率及表面性质对晶型、结晶度、晶区尺寸及取向的影响，揭示准一维体系中高分子的成核、取向和结晶机理，从而为更好地控制高分子在纳米线及纳米棒中的形貌结构，以构建性能理想的高分子纳米器件奠定基础和提供理论指导。