纳米颗粒表面驰豫的XRD表征

本项目以内应力较小的纳米颗粒材料为研究对象，利用高分辨X射线衍射，通过X射线粉末衍射数据全谱模拟(WPPM)的方法，考虑衍射仪实验参数引起的衍射峰峰形的本征宽化的影响，准确测定纳米晶粒的尺寸及其分布，并对纳米材料的表面驰豫进行深入研究，建立可能的纳米材料表面驰豫分析模型，探讨纳米材料的尺寸分布及表面驰豫与其物理性质之间的关系，建立一套可行的纳米颗粒尺寸和表面驰豫的X 射线衍射表征方法并开发相应的分析软件。本项目的研究不仅能进一步认识纳米材料的表面驰豫现象及对材料性能的影响，而且能进一步发展常规X射线粉末衍射在纳米材料中的应用。

本项目以内应力较小的纳米颗粒材料为研究对象，并对纳米材料的表面驰豫进行深入研究，建立可能的纳米材料表面驰豫分析模型。在无法买到标准样品的情况下，合成了一系列纳米颗粒，并进行了XRD初步分析。特别是，合成了一系列以BiFeO3为母体纳米颗粒材料，平均粒度分布约30纳米左右，并对其结构及性能进行了初步研究。