胶接接头强度、性能退化及寿命的超声波无损评价

胶接结构在存储或服役过程中会因胶层材料退化或胶接结合区微观结构变化及缺陷的发展，引起接头强度退化或结构失效。目前国际上无有效的监测技术。本研究将创建一个胶接接头无损评价系统。采用频谱法，建立超声特征量与胶层及结合强度的关系，结合接头的服役历史，实现对接头寿命的预估。这对保障航空航天等重要胶接结构的可靠工作有重要作用。