高数值孔径二次谐波显微术的机理研究

由于二次谐波的相干性使得在二次谐波显微术中存在信号解释和分析的困难，开展二次谐波光学显微术的机理研究是二次谐波光学显微术得到广泛应用的前提和基础，目前在这方面的研究主要是在弱聚焦情况下。本项目提出对采用高数值孔径物镜的二次谐波显微术进行机理研究，建立高数值孔径二次谐波显微术的理论分析模型，通过系统研究入射光偏振状态、像差、样品局部微观结构、物镜数值孔径等因素对二次谐波信号的强度、角度分布、偏振特性的影响，获得对高数值孔径二次谐波显微技术性能的规律性认识，旨在为二次谐波显微术在实际应用中的信号解释与分析、系统优化、功能拓展提供有力的理论依据，促进高分辨率二次谐波显微技术的发展和应用，同时本项目的研究工作也将对其它非线性光学显微术，如三次谐波显微术、CARS等的机理研究和应用有着重要的借鉴意义和参考价值。