氢促进腐蚀及应力腐蚀的半导体膜模型

基本信息
批准号:59771062
项目类别:面上项目
资助金额:13.00
负责人:乔利杰
学科分类:
依托单位:北京科技大学
批准年份:1997
结题年份:2000
起止时间:1998-01-01 - 2000-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:高克玮,曾一民,刘晓敏
关键词:
交流阻抗钝化膜应力腐蚀
结项摘要

研究了氢对金属点蚀敏感性、钝化膜形成、性能以及半导体性质的影响规律,并建立了相应的理论模型。研究表明,氢吸附会加剧金属表面的不均匀性。氢促进氯离子的吸附,缩短金属点蚀的形核时间和降低点蚀电位,加速点蚀生长速度。氢降低金属的腐蚀电位,促进阳极溶解;氢延迟金属钝化膜的形成;降低反应阻力,导致维钝电流密度随预充氢电流密度的增加而增大;降低了膜在纳米尺度上的结晶度,使膜的非晶化更为明显。氢会提高纯铁和不锈钢钝化膜的电容和掺杂浓度,并降低平带电位。升高钝化膜的光电流峰值,降低钝化膜的光学禁带宽度。氢在钝化膜的基体的界面上富集,使得钝化膜强度和基体的结合力降低,导致钝化膜易于破裂,应力腐蚀敏感性增加。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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