HT-7超导托卡马克准稳态高参数等离子体放电中逃逸电子行为的实验研究

托卡马克在稳态运行模式时，由于位形控制、磁流体不稳定性等种种原因引起的等离子体破裂会产生高通量的高能逃逸电子，从而严重损伤装置的第一壁材料，影响装置的安全运行。高能逃逸电子的产生、约束，损失机制及发展有效的抑制手段是当前托卡马克等离子体物理研究和大型磁约束装置工程设计、安全运行的重点之一。在HT-7超导托卡马克上，利用高时间分辨率、宽带响应的切向红外辐射诊断测量逃逸电子的同步辐射，并结合其它硬X射线诊断深入开展准稳态下等离子体发生大破裂时的雪崩逃逸过程等逃逸电子动力学的研究。通过研究低杂波电流驱动(准)稳态运行下等离子体的逃逸电子行为，超热电子对逃逸的影响，逃逸电子和磁场波纹之间的共振作用等，寻找一种有效手段避免或抑制高通量逃逸电子的产生，减少对装置第一壁材料的损伤,提高装置的运行参数, 为实现更长脉冲、更高参数物理实验研究目标提供重要的依据，并为下一代大型装置的稳态运行提供相关数据积累。