纳米显微光学检测方法和成像系统的研究

发展和建立纳米显微光学检测方法和成像系统，将原子力显微镜和切变力显微镜与外差激光干涉仪相结合，采用z-向调制的方式提取探针针尖散射光信号和抑制远场杂散光，重点发展基于切变力检测的z-向调制方法；同时获取表面微观形貌、光学振幅和相位图像，图像的空间分辨率达到10-20nm，具有目前国外实验室的同样水平；分析探针调制振幅和频率对图像的影响以及获得纯近场光学图像的条件；探讨探针针尖几何形状对光场增强的影响；开展探索性研究，如：一维碳纳米管的光学性质检测，偏振在磁光和电光材料纳米检测中的应用，光学探针增强机理等；为在纳米或分子层次上，开展物质结构和光学性质的检测与表征提供实验基础。