测量了高温超导外延薄膜的正电子平均寿命和衬底温度,空气分压的关系,分析表明,增加空气分压或降低衬底温度均可增加空位浓度;缺陷类型与沉积条件无关,正电子湮没参数的温度依赖关系研究表明,YBa2 Cu3 Of-x外延薄膜中,既有正电子深扑获中心,又有正电子浅捕获中心,二者共存;实验还发现,正电子深捕获中心在低温下有长大的趋势,可能形成有效磁通钉扎中心。YBa2 Cu3 Of-x块材与薄膜有着完全不同的变化规律,即块材中仅存在正电子浅捕获中心,随Pr的掺入,正电子浅捕获效应减弱,以致于在Rr Ba2 Cu3 Of-x中已观察不到浅捕获效应。实验发现这种正电子定域态的出现与高温超导电性有明显的关联。此外,还研究了Cd含量对Pb-1212超导氧化物缺陷性质的影响。
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数据更新时间:2023-05-31
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