本课题拟研究垂直磁各向异性薄膜体系的交换偏置特性。通过磁控溅射法制备薄膜样品,利用X射线衍射技术测量薄膜晶体结构,小角X射线衍射分析样品层状结构质量,原子力显微镜观察表面平整度,主要利用振动样品磁强计(VSM)测量磁滞回线,通过磁滞回线获得交换偏置场、磁各向异性等磁性参数。系统分析铁磁层材料与磁各向异性、反铁磁层材料、以及冷却场方向等因素对交换偏置的影响,深入理解垂直磁各向异性薄膜体系的交换偏置行为,进一步揭示交换偏置现象的物理机制;同时探索增强垂直交换偏置性能的方法,为设计垂直易磁化的磁电阻材料提供依据。
本课题利用VSM磁性测量手段研究垂直磁各向异性薄膜的交换偏置性能。(1)针对IrMn/CoFe/[Co/Pt]垂直交换偏置体系,通过合理选择Pt层厚度,在440 Oe的外磁场范围内实现了稳定的单一磁化状态,并保持较强的垂直磁各向异性。这一结果突破了以往报道过的垂直交换偏置体系的最佳性能;(2)研究了FM层磁各向异性与场冷方向之间的相对取向对[Co/Pt]/IrMn体系交换偏置特性的影响,发现FM层磁各向异性并不改变交换偏置特性;对于IrMn交换偏置体系,垂直交换偏置场大于面内交换偏置场,这可能与IrMn的微观磁结构有关。.
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数据更新时间:2023-05-31
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