本工作拟采用脉冲激光烧蚀技术,分别通过引入氩气流、外加电场和引入连续激光光束的方法,对烧蚀产物和纳米硅晶粒施加垂直于羽辉轴线方向上的外力,在羽辉下方平行于羽辉方向的衬底上沉积制备纳米硅晶薄膜;采用扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、原子力显微镜(AFM)、x射线衍射(XRD)、Raman和光致发光(PL)谱等技术,研究距靶不同位置的薄膜中晶粒尺寸分布和数密度分布的特征;与未引入外力时的相应结果比较,并改变引入外力的位置,结合晶粒形成和输运的动力学过程分析,提出定量确定晶粒的成核区特征参量(位置和范围等)的新方法;研究环境气体种类、环境气压、二元环境气体混合比例、靶衬间距等实验参数对成核区特征参量的影响,以探求影响成核区位置和范围的关键因素,揭示激光烧蚀过程中成核区动力学机理。本项目的完成,将为实现晶粒尺寸分布的均匀可控提供理论依据,有助于硅基光电集成技术的发展。
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数据更新时间:2023-05-31
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