聚合物铁电薄膜的结构特性与可靠性研究

以P(VDF)或P(VDF-TrFE)为基的铁电薄膜材料是一类重要的信息与功能材料,与传统的铁电材料相比，聚合物薄膜具有质量轻、工艺简单、能与不同的表面相配合、电致应变大等一系列的性能特点,在传感器、位移器、存储器等领域有着极为广泛的应用。但铁电薄膜器件的使用存在着可靠性的问题。从力学、材料、微电子学等多学科结合的角度揭示聚合物铁电薄膜在多种服役条件（热、力、电）下微结构的特性及其演化，研究薄膜材料的疲劳与失效机理，不仅有利于发展和优化铁电薄膜材料，提高铁电聚合物薄膜器件的使用寿命及其使用中的可靠性，而且有利于揭示与薄膜材料相关的一系列科学问题，如表面、界面、尺寸效应等。