静电放电(ESD)抗扰度试验是电磁兼容(EMC)试验和测试技术的一项非常重要的试验之一,也是检验电子设备能否在复杂的电磁环境中可靠性运行的性能之一。本项目是研究电子设备静电放电抗扰度(ESD immunity)试验的关连性问题,深入研究静电放电产生的电流和辐射的电磁场对电子设备造成的影响的相关性,为现代电子设备的电磁兼容性认证提供静电放电抗扰度试验的理论依据和技术,从而解决目前国际国内静电放电抗扰度试验结果的不一致性难题,本项目的完成对目前国际国内电子设备的电磁兼容性认证、提高电子设备的可靠性具有重要意义。
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数据更新时间:2023-05-31
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