传统的计算MT张量阻抗的方法是基于MT场之统计特性是平稳的线性的高斯的和最小相位的。在此基础上计算其功率谱最终求取张量阻抗要素。然而上述假设并非处处成立。为此本项目提出利用高阶统计量(高阶矩和累积量)计算高阶谱代替常规的功率谱,进而求取MT张量阻抗要素及其它参数,达到提高计算质量增强应用效果的目的。
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数据更新时间:2023-05-31
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