低压电器电弧背后击穿现象的研究

低压电器开断过程中电弧反复向背后转移或重复击穿现象是近年来国内外通过现代测试手段发现的一种影响断路器开断性能的关键现象。本课题仿真分析与实验研究相结合，得出了产生这种现象的机理，它是由于电弧背后区域存在的游离气体发生热击穿造成的，由此提出抑制这种现象的措施和方法，其中创新的混合式灭弧室通过实验对比，能有效抑制这种现象。本课题开发的以磁流体动力学电弧动态数学模型为基础的断路器开断特性仿真软件，能仿真开断过程的电弧背后击穿现象，已争取到国际科研合作项目。课题研制的国内首台光纤阵列高速摄像装置，拍摄速度达10（6）幅/秒。上述科研成果将为我国开发有自主知识产权的新一代低压电器提供理论支持和开发手段。