VLSI新故障模拟方法研究

故障模拟是用计算机来模拟计算数字电路在各种给定的故障状态下对大批输入的响应，它可用于测度评估及测试生成。由于对大型电路故障模拟所需的时间十分宏大。寻求新的高效的故障模拟算法是本项研究的目的。目前国际上流行的有并行，演绎和同时三种故障模拟算法，我们除对它们作可能的改进外主要集中研究近年来的新提出的临界路径跟踪性，经深入分析后我们发现电路中的扇出源是最耗费计算时间的对象，对此我们提出了一系列的静态和动态加速技术，在此基础上提出一个新的故障模拟算法PCPT，实验结果表明对大型电路其计算速度比国际上同类结果提高10-30倍，达到当前国际先进水平（八.五国家重点科技攻关项目鉴定意见）。